一 检具设计

 1 Gauge introduction 检具简介

 2 Gauge design 检具设计（略讲，介绍主要影响测量精度的检具结构形式，GD&T相关计算和案例保留）

─ Gauge Design Process 检具设计流程

─ Gauge Design Guide Line 检具设计指导

─ Gauge Structure Design 检具结构设计

n Datum net检具的定位块常用结构

n Rest pad 定位销的常用结构

n Datum Support 基准支撑常用结构

n Datum locator 基准定位与GPS图纸设计要求

n Clamp 夹紧装置设计和常用结构（会影响测量精度，需要保留）

n Go/No-Go pins 止通规的设计

n Gage pin 定位销尺寸的设计

n Flush and Fleeler checker 平齐度和间隙度检测设计

n Sight check 视觉检测

n Gauge base 检具基座

n Holding fixture 检具的搬运附件

n Wheels 检具的地轮

n Gauge alignment bushing检具的基准孔

 3 Gauge Construction 检具制造（简单介绍主要内容）

─ Gauge Construction Guide Line 检具制造工艺要求

─ Gauge Construction Permanent Marking 检具的标识管理

─ Gauge Construction Alignment 检具的定位和对齐

─ Gauge ODS 检具的操作指导书

 4 Gauge Inspection And Verification 检具检测和验收

─ Guide Line 检具的使用指导

─ Inspection Points 测点设计

─ Standard Build Tolerance 检具公差设计

─ MSA 测量系统分析（略讲）

─ Gage Buy Off 检具的批准发运

 5 Gauge Shipping 检具发运

─ Gauge Transit 检具的运输要求

─ Gauge Packaging 检具的包装

─ Gauge Documentation 检具的技术文件管理

 6 Gauge Design checking list 审核清单

二 GD&T 图纸与质量管理（基于客户案例，冲压件GD&T）

 GD&T 图纸的技术要求构成

─ 客户图纸案例分析

─ GD&T导入检具设计

 GD&T 图纸的质量相关信息

─ 14种GD&T几何公差控制方式的公差带、检测方法（重点内容包含以下：）

 位置度控制 - MMC，LMC，RFS

 组合公差控制框位置度控制

 轮廓度控制

 组合公差控制框轮廓度控制

 跳动控制

 案例分析

─ 检具工装上的基准方案与GD&T设计

 基准的建立：3-2-1原则

 RPS/PLP定位

 工艺基准

 检测基准

 设计基准

 CMM中定位的原理

─ 检具的公差分配

 绝对公差法

 乐观公差法

 包容公差法

─ 关键特性尺寸

─ 客户图纸中相关的测量要求分析

─ 测量方案和检测报告的设计

─ 案例分析（请准备相关案例）

 测量应该注意的问题 – 公差的不确定性

─ 设计要求的不确定度

─ 公差设计方法的不确定度

─ 测量操作执行的不确定度

─ 判断合格原则的不确定度

 对于测量结果的合格、拒收的判断行业规则（略讲）

─ 工件与测量设备认证中合格性判断规则及应用

─ 零件的上下极限偏差及默认原则

─ 拒收公差区域划分

─ 可接收公差区域的划分

─ 公差的分布与区域的划分

─ 供应商与客户之间的合格判断原则